میکروسکوپ نیروی اتمی
کاربرد:
مورد استفاده در بسیاری از مطالعات، جهت نوشتار، دستکاری و جابجایی اتمهای منفرد زنون، مولکولها، سطوح سیلیکونی و پلیمری
جهت انواع نانولیتوگرافی و تولید نانوساختارها و نانوماشینکاری
معرفی محصول:
میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) ابزاری برای مشاهدهی نمونهها با ابعاد نانومتری و بررسی توپوگرافی سطح آنهاست. در میکروسکوپهای نیروی اتمی از نیروهای ضعیف نظیر نیروهای واندروالس و مویینگی بین نوک پروب و سطح نمونه برای تشکیل تصویر توپوگرافی از سطح نمونه استفاده میشود. از این رو هیچ محدودیتی برای بررسی سطح نمونه برخلاف میکروسکوپهای تونلی روبشی وجود ندارد. میکروسکوپ نیروی اتمی قادر به تصویربرداری با تفکیک مکانی اتمی از نمونههای رسانا، نارسانا و حتی نمونههای بیولوژیکی میباشد. این میکروسکوپ نقش به سزایی در پیشرفت علوم مختلف از جمله الکترونیک، نانوفناوری و علم مواد ایفا میکند. امروزه دستگاههای تجاری متفاوتی با مبانی مشابه و حالات کاری مختلف عرضه شدهاند که از نظر دقت و کیفیت تصاویر با یکدیگر تفاوت دارند.
مشخصات فنی:
محدوده اسکن X,Y |
۱۰ میکرون |
محدوده اسکن Z |
۳ میکرون |
وضوح جانبی |
۰.۱۳ نانومتر |
وضوح عمودی |
۰.۰۵ نانومتر |
حداکثر حجم نمونه |
۲۰ میلیمتر |
مرحله موقعیتیابی میکرو XY |
۲.۵ میکرون |
وضوح اسکنر DAC/ADC |
۱۶ بیت |
شرکت | |
---|---|
نوع | این محصول، تجهیز نهایی با ماهیت B2B است. |